Шероховатость поверхности пленки может характеризоваться рядом параметров, как правило, рассчитываемых путем векторного сканирования поверхности пленки с помощью алмазной иглы (стандарт EN ISO 4287). Наиболее распространенными параметрами являются параметры Ra, Rz и подсчет выступающих точек. Для получения результатов, пригодных для сравнения, очень важна длина измеряемой линии и место среза (начало и конец измеряемой линии, которые не берутся в расчет).

Параметр Ra – это область между кривой шероховатости и базисной линией (преобразование области, заключенной между кривой шероховатости и средней линией в прямоугольник).

Параметр Rz – это среднее значение максимальной высоты пяти частей измеряемой линии.

Параметр «подсчет выступающих точек» - это число точек на см, которые выступают за нижний и верхний предел. Эти пределы (d) следует учитывать при сравнении различных результатов измерения.

Δ В начало